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高温老化房返回

高温老化测试的标准通常由三个因素组成:环境温度、温度升降速率和老化时间。

环境温度指的是测试环境中测试元器件的温度,一般范围在-40℃~125℃,具体

温度可以根据测试元器件的特性进行调整;温度升降速率指的是测试元器件从室

温到测试温度时的升温或降温速率,一般范围在3℃/min~5℃/min,如果采用更



高温老化房
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快的温度升降速率,会使测试元器件的热损伤加剧;老化时间指的是测试元器件

在高温环境下的持续时间,一般范围在24h~168h,也可以根据测试元器件的特性进行调整。

此外,在高温老化测试中,还需要注意环境湿度,一般范围在20%~80%,减少

湿度可以降低测试元器件在高温环境下的损伤;还需要注意测试元器件是否组装在PCB,

组装在PCB上的元器件会受到PCB的散热影响,因此在测试时应该考虑元器件的散热效果。


以上就是高温老化测试的标准,它的主要内容有:环境温度、温度升降速率和老化时间;

此外,还需要考虑环境湿度和测试元器件的散热效果。在实际应用中,可以根据不同测

试元器件的特性进行调整,以获得更好的测试效果。



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